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ICT测试保证PCBA质量

在线测试将确保100%的质量通过，在设计电路板时，请要求电子工程师预先设计ICT，我们将使用图表制作ICT夹具，并在发货前进行100%测试

ICT测试
样机组装
多层印刷电路板
FCT测试

关于在线测试你必须知道的一切

ict测试

在线测试（ICT）是否有标准的测试方法来检查多氯联苯制造缺陷和可怜的组件通过测试电性能和连接电路元件．

主要检查线路中各元件的开路和开路短路各电路网络的情况。具有操作简单、快速、故障定位准确等特点。一个感伤d电子工程师会在什么时候预先考虑测试点吗设计一个电路板．

ICT针床可以测试模拟设备的功能和逻辑功能数字设备并且具有较高的故障覆盖率。然而，特殊的针床装置需要做每种类型的单PCB板，夹具生产和程序开发周期长。

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ICT在线测试的功能和好处

1.资讯及通讯科技的一般功能:

(1)它能检测上的所有零件组装电路板在短短几秒钟内，比如电阻，电容器、电感器、晶体管、场效应晶体管、发光二极管、普通二极管、稳定二极管、光耦合器、ICs等。它还检查零件是否在设计的规格范围内工作。

它可以决定PCBA制造工艺提前缺陷，如短路，开路并对工艺改进提供反馈。

(3)可将上述故障或试验结果打印出来，包括故障位置、部件标准值、试验值供维修人员参考。可以有效减少人员对产品技术的依赖。即使对人事没有经验PCB电路，他们仍然有能力作出贡献。

(4)可以确定不合格的测试，生产管理人员可以对信息进行分析，确定产生缺陷的原因，包括人为因素。这样才能解决、纠正和提高问题电路板制造和质量的能力。

2、ICT特殊功能:

  1. 电解电容器极性测试技术:

电解电容器反转，缺失部分为100%可测试并联电解电容器反转，缺失部分为100%可测试电解电容器极性工作原理测试技术:

它是使用第三个引脚施加一个触发信号到顶部电解电容器并测量第三点与正负端之间的响应信号。

1.2用DSP (数字信号处理)技术，通过DFT (离散傅里叶变换)和FFT(快速傅里叶变换)。得到的响应信号由t(时间)域(示波器信号)到f(频率)域(频谱分析仪信号)矢量组。

1.3通过学习得到一组标准向量值，然后将DUT的测量值(测试设备)通过模式匹配（特征识别和比较技术）与原始标准值进行比较，以确定测试对象的极性是否正确。

模式匹配用于诸如指纹识别、假币识别、视网膜识别等。

ict pcb

ICT(在线测试)的好处

  1. 产量增加:信息通信技术在世界上具有快速的检测速度电路测试器．例如,的加工300块组件的板测试时间约为3秒，大大缩短了手动测试时间，输出可大大提高。
  2. 降低成本:
  3. 简化维护工作，加快维护速度，减少员工数量，降低维护成本。
  4. 降低组件的成本人为错误。
  5. 减少备件库存组件．
  6. 提高PCBA产品的一次成品率:提供大量的统计数据，供生产经理监督、调整和管理加工生产过程在时间。
  7. 减少人为错误:ICT在线测试仪准确检测错误，避免人为错误判断故障。
  8. 降低营运成本:电路中的ICT测试仪可以一次测试整个板，也可以测试多个董事会同时，只有一个操作员。
  9. PCBA产品经过ICT测试后。所有隐藏的问题都被删除，以便稍后进行功能测试。
  10. 现代加工生产通过ICT测试，生产线将生产出优质的产品。

ICT测试原理

1.测试原理

  • O笔/短的测试:将一块PCBA板样品放在测试夹具上。做Pin to Pin learning (learning standard20Ω)，测试时比较R<10Ω为Short, R>80Ω为Open。

简而言之:10Ω， Lr:20Ω， Open:80Ω。这个标准是系统默认设置，如果需要可以更改。

在电子测量中有两种类型的电路:1。产生测量参数(电压和电流)。2.控制电路中现有的电压和电流。

守卫

Ict和FCT测试

用万用表测量电阻Rx时

∵Lx=Is-I1≠是∴Vx/Is≠接收

如果A点的电位Va被发送到G点，则让Vg=Va Ir1=（Va Vg）/R1

∴Ir1=0等于Ix∴ Rx=Vx/Is

电阻测量是由电压和电流测量得来的。的欧姆计自身必须为被测板提供激励源。可以在不构成电路一部分的情况下测量电阻。假设电阻是电路的一部分。

在这种情况下，必须拆除其他电压或电流源，并断开电源或电池与电路的连接。否则，电流或电压读数将不正确。

ict fct

1.电阻R(模式D1, D2)

直流恒流源:根据欧姆法则:V=IR，得到Rx=Vx/Is。

因此，可以通过测量AB端电压Vx来计算Rx。

(恒流范围:0.1UA-50MA)

teradyne ict测试器

电阻R / C(模式V5,简历)

直流恒压电源:根据欧姆定律:V=IR，得到Rx=Vs/Is=0.05V或0.1V/I

因此，如果得到Ix，则可以计算出Rx的值。

Vs = 0.1 v, 0.05 v

ict pcb测试

电阻器R/L（模式P1、P2、P3、P4、P5）

阶段测试方法:交流电压必须为Vs，辅以相位法Rx=1/|Y ' |Cosθ

功能电路测试

电阻R(模式XR)

25V电压源，测量1M以上电阻

2.电容C(模式A1 A2 A3 A4 A5)

交流恒压:交流电压必须为Vs, Vs/Lx=Zc=1/2πfCx

得到:残雪=第九/ 2π阵线

pcba ict

*电容C/R(模式P1 P2 P3 P4 P5)

相法试验:|Y ' |Sinθ=|Ycx|，即ωCx ' Sinθ=ωCx

得到:残雪=残雪,θ(Cx第九' = ' / 2π阵线)

ict和fct

*电容C 3UF或更大电容（直流模式）

直流恒流:C=ΔT/ΔV*I

*电感L(模式A1 A2 A3 A4 A5)

Vs / Ix = = 2π兹罗提fLx得到:Lx = Vs / 2π修复

ict的加工

阶段测试：| Y ' | Sinθ= | Ycx |,即Sinθ/ωCx”= 1 /ω残雪得到:Lx = Lx ' / Sinθ(Lx = Vs / 2π修复)

ict mda

3.*二极管，齐纳管，晶体管Bc, Be, IC

ict-fct试验

二极管

二极管是一种双端元件。当反向偏置时，阳极电压相对于阴极是负的，并且具有很高的电阻。当为NPN时，出现压降和低电阻。正向电压的下降与二极管的类型有关，通常小于1V。硅:0.6v-0.7v，锗管:0.25-0.4v，肖特基块型:0.4-0.5v, LED: 1.5-2.5v。

测量二极管时，Vs应大于二极管正向压降。但不宜过大，以免电压过大或二极管被电流损坏。NPN测试:一般电压源为2.2V，然后测量其电压。正向:约0.7v，反向:2.2v。二极管的正向电压降与二极管类型有关，通常小于1V。

硅:0.6v-0.7v，锗管:0.25-0.4v，肖特基势垒型:0.4-0.5v, LED: 1.5-2.5v。

ICT测试技术中的IC测试

电路中通信技术测试

在ICT测试中，有三种测试IC的方法：IC钳位二极管测试、IC扫描和集成电路测试喷气机。在这三种测试方法中，IC箝位二极管测试是最常用的，并且大多数测试都具有此功能。IC扫描功能是由PTI公司开发的一种针对嵌入式系统盲点的测试程序集成电路测试．IC测试射流是安捷伦TestJet技术为解决贴片IC电路引脚开路问题而开发的一种测试方案。用于IC开接头试验。

IC箝位二极管测试

IC箝位二极管测试方法是用每个IC引脚到IC VCC pin，或用每个IC引脚到IC的GND pin，或用两个相邻的IC引脚作为两个来测试低电压功能测试点．

测试程序由自动学习方法生成。当做一个项目，利用软件IC的Pin Edit功能，将IC的每个Pin输入相应的探针号，并指定哪个Pin为VCC Pin和GND Pin

测试原理:根据IC厂家每个引脚的保护二极管进行测试足迹到GND/VCC，可辅助IC空焊和反向测试。

IC扫描

IC扫描技术检测SMD IC引脚开路(pin open)方法，因为每个引脚都是由IC的三个引脚测试的，所以即使是总线上的引脚也可以检测。

安捷伦3070 ict

其原理如图所示:

步骤1:A= -0.9v B=0v测量电流，得到:I1=I3+I4

测量电流，得到:I2

第三步:I=I1-I2 I>0得到好I≤0得到坏

注意:

  1. 点B必须是一个独立的引脚
  2. 给定电压并测量电流
  3. 数字集成电路可以测量
  4. 两个ic的截止电压不一样，无法测试。

集成电路测试飞机

为了进行测试，IC测试射流利用夹具上的传感板对IC进行压紧;传感器板的形状和面积与IC外壳相同。然后利用感应板的铜箔和IC脚架之间的电容来检查引脚的开路情况。系统从测试点向IC引脚发送200mV, 10KHz的信号。

信号通过IC框架和传感板之间的电容耦合，然后通过传感板上的放大器。转到64通道信号调理卡选择并放大信号，最后连接到测试喷射系统以测量信号强度。如果IC引脚开路，因为无法检测到信号，系统将知道它是开路。

PTI816NT ICT系统采用了该技术，大大提高了检测率数字电路板．计算机主板、适配器卡、传真机、调制解调器板均能得到满意的测试结果。安捷伦Testjet技术还可以检测各种插座引脚的开路，无论是插入型还是SMD型。如下所示:

从目前的应用情况来看，两种或两种以上技术相结合的测试方法正在成为一种发展趋势。

ict测试电路板

不同的ICT测试技术各有优缺点。通过结合集成电路箝位二极管测试和集成电路扫描技术，它们不需要额外的测试附件。IC扫描是PTI的免费附加功能，不受集成电路封装/高度，可测试ic的并联连接，特别适用于主板等IT产品BGA、声卡、显卡。另一方面，IC扫描和测试喷射技术主要是针对SMD IC测试其空焊点、冷焊点等。

IC测试喷气确认元件是否存在，但不能确认元件、方向、数值是否正确。采用两种或两种以上的测试方法可以降低ICT测试的失败率。

2．硬件结构与功能

PTI816系列测量板采用四层板结构，它们是：

直流板:直流信号源，测量电阻，二极管，三极管

交流板:交流信号源，测量电容和电感

SYS Board:输入输出信号的控制和转换

IC扫描功能板:系统自检，IC扫描功能，测试喷射功能

  1. 继电器板:4层板，采用簧片继电器，具有低内阻、低杂散电容、高电压、大电流抵抗等。

系统自诊断和调试功能

  1. Test-self

TESTSELF。STD是一个系统自检程序，它包括一些电阻、电容和电感。

*如果自检发现电阻测试或1V、4V、8V或24V电压测试失败，则表明直流板损坏。

*如果单有问题电阻时，说明直流板上某个齿轮工作不正常。

*如果电容器或电感自检不良，则交流板损坏。如果某个电容器或电感坏了，则交流板的相应齿轮断开。

*如果系统板损坏，所有组件测试将失败。

3.调试功能（配电盘自检）

当继电器板自检，“MPX OK”将显示在荧光屏上。否则，则表明对应的总机继电器板损坏，如:断开或短路。

安捷伦ict

如发现以上一至两项异常，请做好必要的相关记录，并尽快通知PTI。

附录4:陶瓷电容误差:

F:±1%R:-20%+100%

G:±2% s: 0% +20%

H:±2.5% T: -10% + 50%

J:±5% Z: -20% + 80%

K:±10%M:±20%

ict测试成本
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调试

★调试顺序调试程序:

  1. 固定夹具:关闭光电保护开关，将夹具固定在压力机上。注—①气缸行程使探头压下2/3。②当双面测试夹具固定在上模上时，将主画面切换到零件编辑画面。

然后打开光电保护开关。

  1. 电缆连接:连接继电器板和夹具。注:挠性电缆对应于夹具的喇叭。
  2. 读取程序：将测试程序放在磁盘的C:\COPY A:\*.*C:\data目录下，进入测试系统，并调用该程序。注：程序包括XX.dat、XX.pin和XX.nal。（主屏幕-L）。
  3. 开放式/短式学习:取一块好的产品板，放在夹具上进行学习。备注:OPS Delay大于等于120。(主要screen-L)。
  4. 排序：输入EDIT（COMPONENTS）并按实际值排序。跨接电阻电容电感二极管三极集成电路；该排序方法在测试过程中稳定快速。（ALT+S）。
  5. 扫描:程序扫描(Scan)按结束Ctrl+F9组件。
  6. 组件调试。
  7. 学习IC: IC箝位二极管(ALT+I)，IC_SCAN(ALT+W)，IC TESTJET(ALT+X)。
  8. 保存:按“sf3”保存程序。

程序调试

为什么调试?当新程序在实际扫描时，由于信号的选择、元器件电路或环路的影响、测试引脚数的误差，少数步长就会不好(测量值超过±%)。

R调试:根据R的大小，系统自动调整测试电流的值。(0.1 ua-50ma)

F9:单步调试ALT+F9:全页调试F5:交换AB点

F10:自动保护ALT+H:视图系列组件

ALT+J:查看平行组件，选择对应的MODE和AB点

R/C: CV V5 and Dly(TM)

R / D: D2 V5

R/R: STD值为并联电阻

R/ l: p1、p2、p3、p4、p5;根据Zx=2πfL，当L为常数时，f越大，Zx越大，对R的影响越小。

C调试:3uf ~ 300uf，系统信号源为AC和DC, 300uf以上为DC模式，470pf以下的小电容为A4 A5和OFFSET, 470pf ~ 3uf A3 A2 A1

F9:单步调试ALT+F9:全页调试F5:交换AB点

F10:自动保护ALT+H:视图系列组件

ALT+J:查看平行组件，选择对应的MODE，点A和点B

C/C: STD值为并联电容值

C/ r: a1, a2, a3, a4, a5;根据Zc=1/2πfC，当C为常数时，f越大，Zc越小，R的影响也越小。

C/ l: p1, p2, p3, p4, p5;根据Zx=2πfL，当L为常数时，f越高，Zx越大，对C的影响越小。

C/D: DC AB位置A1、A2、A3、A4、A5均可进行良好的测试。

D、Q、IC调试:F9:单步调试ALT+F9:全页调试

交换点AB

正向:约0.7V (NPN)反向:大于2V(反向截止)

D/C:低压加电压和Dly

D/D:除了对CM进行正向传导测试外，还需要进行电流测试。

齐纳调试:ACT值大于齐纳击穿电压+30%- +50%。如果试验没有显示击穿电压，可以增加齿轮和增加Dly, 10V-48V的齐纳可以使用高压。

Q的ce极点:需要确认Q的类型(NPN, PNP)， A点是一样的(NPN)， B点是一样的(PNP)

为了使ce非常饱和和导电，NPN的偏置电压为0.6v-1v, PNP的偏置电压为2.5v-1.8v。反向截止高于0.5v(否则，调整ACT值)。

特殊的测试方法:

电压调节器7805:

小电阻四线测量:1。在测量最小电阻时，探头和电缆的电阻可能会引入明显的误差。电流流过这些杂散电阻并在电阻上产生电压。

由于电压表在测量中包含R1和R2电压，添加到未知电阻Rx的杂散电阻将导致误差。

  1. 4线欧姆技术使用两个额外的测试探头，以避免这种错误。的current Is flows through a set of separate probes to the unknown resistance. These probes/wires also have stray resistance and flow through the unknown resistance Rx. The current is a constant current source and remains constant. The other two test pins are the voltmeter测试探针，监测未知电阻上的电压，因此两端无压降。没有电流流过两个测试引脚。因此，电压表可以准确地测试Rx的值。

常见的ICT误判

1.ICT盲点：

  • 特殊集成电路——有些集成电路没有GND和VCC保护二极管
  • 单点测试-如电源线、插座和单个组件在单个测试点
  • 10多个电容器并联-显示电容器的调整精度。见附件4
  • 并联一个大电阻，即是小电阻的15倍以上
  • D/L或低于D/10Ω， D不可测量
  • 平行的跳投
  • 压敏电阻/过滤器
  • 集成电路内部功能测试
  1. 按行程不足。探头压入范围为2/3
  2. PCB板注册杆松动，探头偏离pad。
  3. 测试线路板上的点、裸铜板、有机可焊防腐剂、助焊剂、标签、焊罩未打开、锡不良
  4. 贫穷的PCB制造过程：如果未清洗电路板，则由于松香过多，导致探针接触不良
  5. 探针不良，如针钝化、老化、高阻抗等。
  6. 元器件制造商的改变，如小电容器和IC测试喷流，可增加±%和改变测试喷流值
  7. Poordebugging
  8. ICT失败

资讯及通讯科技设备及科技

keysight 3070

ICT设备制造商

不同的制造商:安捷伦科技，Teradyne，波塞尔，三星(法拉)，t2000, gw, seica，WINCHY， TAKAYA, Check Sum (USA)， Hioki, IFR，Takaya(日本)、Tescon、Okano(日本)、Rohde & Schwarz、Scorpion、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、SYS(台湾系列)、Tr、WK Test、JET、schull、Viper、TTI、SRC、Hong Kong Concord等在中国均有应用。

安捷伦hp3070、泰拉达因和温琪在其中拥有最高的市场认知度。

飞行探测器ICT只做静态测试。其优点是不需要fixture，而且程序开发时间短。针床式ICT可测试模拟设备功能、数字设备逻辑功能，故障覆盖率高。但每一种单板都必须制作专用的针床夹具，夹具生产和程序开发周期长。

范围和特点:检查在线元件的电气性能和电路网络的连接情况。首先，它可以定量测量电阻、电容、电感、晶振等器件。其次，可以对二极管、三极管、光耦合器、变压器、继电器、运算放大器、功率模块等进行功能测试。还可以对所有74系列、存储器、共驱动、交换等中小型集成电路进行功能测试。

它通过直接在线测试器件的电性能来发现制造过程中的缺陷和不良部件。可检查部件值超差、故障或损坏、内存部件程序错误等。在PCB和PCBA制造工艺中，会出现焊锡短路、组件安装错误、反向、缺失、引脚上翘、误焊、PCB电路短路和开路等故障。

测试故障直接定位在特定元件、设备引脚和网络点上，故障定位准确。维修不需要太多专业知识。带有程序控制的自动化测试操作简单，测试速度快。单板的测试时间一般为几秒到几十秒。

重要性：电路内测试通常是生产中的第一个测试过程，反映制造状态，有利于PCB工艺的改进和升级。ICT测试的故障板故障定位准确，维修方便，可大大提高生产效率，降低维修成本。其特定的测试项目是现代批量生产质量保证的重要测试方法之一。

向量的测试

随着现代PCBA制造技术的发展和规模化集成电路，为组件板编写矢量测试程序通常需要花费大量的时间。例如，80386测试程序花费了一个熟练的程序员将近半年的时间来开发。大量的SMT应用使得元件引脚开路的故障问题更加突出。

为此，Teradyne推出了MultiScan, GenRad推出了Xpress非载体测试技术。因此，公司开发了非矢量测试技术，Teradyne推出了MultiScan;GenRad推出了Xpress非媒介测试技术。

2.1 DeltaScan模拟结试验技术

DeltaScan使用防静电保护或几乎所有数字器件引脚和大多数混合信号器件引脚的寄生二极管，以在器件的独立引脚上执行简单的直流电流测试。当某块板的电源被切断时:

1在引脚a处对地施加负电压和电流Ia通过引脚a的NPN二极管测量电流Ia流经销A。

2保持A引脚电压不变，B引脚负电压增大，电流增大Ib通过引脚B的NPN二极管。由于从引脚A和引脚B到地的共同衬底电阻中共享了电流Ia将会减少。

3测量电流Ia再次通过针脚A。如果Ia当电压被施加到引脚B时，不会改变(delta)，这一定是一个连接问题。DeltaScan软件对设备上许多可能引脚的测试结果进行全面分析，以获得准确的故障诊断。信号引脚、电源和接地引脚以及基片都参与DeltaScan测试。

这意味着除了引脚断开外，DeltaScan还可以检测缺失的组件、反向和断开焊锡线。GenRad型试验被称为Junction Xpress。它也使用IC的二极管特性，但测试是通过测量二极管的光谱特性(二次谐波)来实现的。DeltaScan技术不需要额外的夹具硬件，成为第一个这样做的技术。

2.2 FrameScan电容耦合测试

FrameScan使用电容耦合来检测引脚断开。每个设备上都有一个电容探头。信号在某个引脚处被激发，电容探头拾取信号。

1夹具上的多个开关板选择特定设备上的电容探头。

2测试仪中的模拟测试板(ATB)依次向每个被测引脚发送交流信号。

3电容式探头采集并缓冲被测引脚上的交流信号。

4 ATB测量电容探头拾取的交流信号。如果一个特定的引脚连接到电路板是正确的，信号将被测量。如果引脚断开，将没有信号。

GenRad这种技术被称为Open Xpress。原理是相似的。

这项技术的夹具需要传感器和其他硬件，以及测试成本是略高。

标记:所有表面工艺为FR4,1.6mm,Mini孔>0.25mm,Mini线宽>5Mil。